扫描探针显微镜-材料科学与工程中心实验室

扫描探针显微镜

发布日期：2019-01-12 浏览量：

　　设　备　名　称：扫描探针显微镜

　　固定资产编号 :　124124

　　设备厂家、型号：MFP-3D

　　负责教师：　　　姜燕　联系方式:15162999562

　　使用方式：

功能指标：

1.具有轻敲、接触、相位成像、磁力、静电力等多种成像模式，可进行动态和静态力曲线测试。 2.仪器采用开源的操作软件，可进行粗糙度、截断面、颗粒度等多种表面和性能分析。 3.用于薄膜，粉体等多种材料表面形貌成像及表面粗糙度分析； 4.测试和研究功能纳米材料力、电、磁等物理性能；进行纳米刻蚀和操纵

技术指标：

1.扫描器类型：三轴分离全程闭环平板式扫描器； 2. 扫描器范围：xy轴90微米，z轴小于15微米； 3.扫描器噪音：xy轴闭环噪音0.6纳米，非线性度小于0.5%，z轴闭环高度噪音小于0.06纳米，非线性度小于2%； 4.样品台：直径小于50 mm，厚度小于5 mm; 5.工作模式：轻敲模式，接触模式，相位模式，横向力模式，磁力模式，静电力模式，压电响应模式，纳米刻蚀，力曲线测试； 6.连续一千万点力曲线和大于8000*8000点高密度像素成像。

样品注意事项：

使用注意事项：

收费标准：

仪器地点：

新楼201

备注：

请自带探针

仪器设备

微观分析

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