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设 备 名 称:
X射线衍射仪
固定资产编号:
124012
设备厂家、型号:
日本理学D/MAX2500PC
负责教师:
李冬升 联系方式:13952883863
使用方式:
功能介绍: 1. 可用于对各种材料如:金属、无机非金属、半导体、建筑、化工与化工、医药等的块体或粉体材料进行物相分析。 2. 可对单晶、多晶和非多晶材料进行结构分析如:晶体结构点阵常数的、晶粒或镶嵌块尺寸、点阵畸变、结晶度等的测定。 3. 材料内的宏.微观残余应力的测定,冷变形板材、线材等塑性成型材料表面积结构及其分布情况分析。 4. 可进行表面功能多晶薄膜或多层膜材料进行物相鉴定、膜厚、膜密度测定 ,层序及取向分布分析。 5. 配备高、低温附件,可对各种材料从低温到高温下的动态物相及结构变化分析:化学反应气氛及压力等异常状态下的原位研究;可在固-气相的化学反应、反应动力学(如烧结 .氧化过程).无机晶体材料的脱水、高聚合物及其他有机材料的溶解和再结晶等方面的研究。
技术指标: 1. X射线发生器输出功率:18KW;管电压:20~60KV 管电流:10~300mA可调,稳定性±0.01%以下。 2. 测角仪:采用线性复合轴承的高精度,5项步进马达驱动,定位速度快,测角范围宽。最小步进:0.0001°,测角仪半径:185~285mm可调,定位速度:1500°/min,扫描速度:0.001~100°/min.2θ测角范围:5~120°。 3. 狭缝方式:程序式可变狭缝,最大宽度:7mm±0.01mm.精度高,可达±0.01mm。 4. 新型单色器,可方便地改变光学系统,实现平行光与集中光束转换。 5. 配备多用途样品台附件,具有极图,薄膜测量和旋转等多种功能。 6. 配备高温装置和中低温装置,可了解材料在不同温度下或在程序控温条件下,晶体结构和物相的变化。温度范围在液氮温度~1500℃,并可进行在线动态分析。
样品注意事项:
使用注意事项:
收费标准:
仪器地点:
备注:

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