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扫描探针显微镜
发布日期:2019-01-12


  设 备 名 称:扫描探针显微镜
  固定资产编号 : 124124
  设备厂家、型号:MFP-3D
  负责教师:   姜燕 联系方式:15162999562
  使用方式:


功能指标: 1.具有轻敲、接触、相位成像、磁力、静电力等多种成像模式,可进行动态和静态力曲线测试。 2.仪器采用开源的操作软件,可进行粗糙度、截断面、颗粒度等多种表面和性能分析。 3.用于薄膜,粉体等多种材料表面形貌成像及表面粗糙度分析; 4.测试和研究功能纳米材料力、电、磁等物理性能;进行纳米刻蚀和操纵
技术指标: 1.扫描器类型:三轴分离全程闭环平板式扫描器; 2. 扫描器范围:xy轴90微米,z轴小于15微米; 3.扫描器噪音:xy轴闭环噪音0.6纳米,非线性度小于0.5%,z轴闭环高度噪音小于0.06纳米,非线性度小于2%; 4.样品台:直径小于50 mm,厚度小于5 mm; 5.工作模式:轻敲模式,接触模式,相位模式,横向力模式,磁力模式,静电力模式,压电响应模式,纳米刻蚀,力曲线测试; 6.连续一千万点力曲线和大于8000*8000点高密度像素成像。
样品注意事项:  
使用注意事项:  
收费标准:  
仪器地点: 新楼201
备注: 请自带探针

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